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期刊信息
  • 主管单位:
  • 中国科学技术协会
  • 主办单位:
  • 中国仪器仪表学会、上海光学仪器研究所、中国光学学会工程光学专业委员会
  • 主    编:
  • 庄松林
  • 地    址:
  • 上海市军工路516号上海理工大学《光学仪器》编辑部
  • 邮政编码:
  • 200093
  • 联系电话:
  • 021-55270110
  • 电子邮件:
  • gxyq@usst.edu.cn
  • 国际标准刊号:
  • 1005-5630
  • 国内统一刊号:
  • 31-1504/TH
  • 邮发代号:
  • 单    价:
  • 15.00
  • 定    价:
  • 90.00
基于傅里叶变换的数字散斑照相测量
Displacement measurement of digital speckle photography based on Fourier transform
投稿时间:2017-11-08  
DOI:10.3969/j.issn.1005-5630.2018.01.001
中文关键词:  傅里叶变换  数字散斑照相  变形场
英文关键词:Fourier transform  digital speckle photography  deformation field
基金项目:国家重点研发计划项目(2016YFF0101904)
作者单位E-mail
曾媛 上海理工大学 上海市现代光学系统重点实验室, 上海 200093
上海理工大学 光电信息与计算机工程学院, 上海 200093
上海理工大学 教育部光学仪器与系统工程研究中心, 上海 200093
上海理工大学 上海光学仪器研究所, 上海 200093 
 
钱晓晨 上海理工大学 上海市现代光学系统重点实验室, 上海 200093
上海理工大学 光电信息与计算机工程学院, 上海 200093
上海理工大学 教育部光学仪器与系统工程研究中心, 上海 200093
上海理工大学 上海光学仪器研究所, 上海 200093 
 
顾页妮 上海理工大学 上海市现代光学系统重点实验室, 上海 200093
上海理工大学 光电信息与计算机工程学院, 上海 200093
上海理工大学 教育部光学仪器与系统工程研究中心, 上海 200093
上海理工大学 上海光学仪器研究所, 上海 200093 
 
韩朝霞 上海理工大学 上海市现代光学系统重点实验室, 上海 200093
上海理工大学 光电信息与计算机工程学院, 上海 200093
上海理工大学 教育部光学仪器与系统工程研究中心, 上海 200093
上海理工大学 上海光学仪器研究所, 上海 200093 
zxhan@usst.edu.cn 
陶春先 上海理工大学 上海市现代光学系统重点实验室, 上海 200093
上海理工大学 光电信息与计算机工程学院, 上海 200093
上海理工大学 教育部光学仪器与系统工程研究中心, 上海 200093
上海理工大学 上海光学仪器研究所, 上海 200093 
 
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中文摘要:
      提出了基于傅里叶变换的双曝光散斑场的全场数字化测量。对双曝光散斑图进行傅里叶变换得到条纹图以灰度归一法和相位构造法将其优化,获取低噪声、高对比度的散斑干涉条纹。平面位移的测量实验结果表明,数字散斑照相技术适合计算机进行自动条纹识别和位移场计算,能得到较为精确的水平位移值,可实现变形场的精准测量。
英文摘要:
      A whole-field digital measurement based on Fourier transform is proposed to realize double exposure speckle field.The bar chart received from double exposure specklegram through Fourier transform is optimized by grayscale normalization and phase construction to get a speckle interference fringe with low noise and high contrast.The experimental result of measuring plane displacement shows that digital speckle photography is suitable for automatic stripe identification and calculation of displacement field by computer to get accurate results of plane displacement,which can achieve the precise measurement of the deformation field.
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